Métodos Avançados de Caracterização de Materiais

Ano
1
Ano lectivo
2014-2015
Código
03015987
Área Científica
Ciências e Engenharia de Materiais
Língua de Ensino
Português
Modo de Ensino
Presencial
Créditos ECTS
7.5
Tipo
Opcional
Nível
3º Ciclo - Doutoramento

Métodos de Ensino

Será realizado um exame final. A nota mínima para aprovação na prova escrita será de 9,5/20 valores. Serão admitidos a exame os alunos que tenham sido aprovados na componente laboratorial. Nas aulas de laboratório será desenvolvido trabalho experimental individual que será alvo de avaliação contínua.

Resultados de Aprendizagem

Aprofundamento de um conjunto de técnicas avançadas de caracterização de materiais e suas superfícies.

Serão apresentados os princípios de funcionamento de cada uma das técnicas, sendo abordados casos de estudo no campo dos materiais poliméricos, biológicos, cerâmicos e metálicos. Pretende-se que os alunos tragam amostras do âmbito do seu próprio trabalho de investigação, que serão analisadas no decorrer das aulas práticas. Desta forma, a componente prática da disciplina, será útil na resolução de problemas concretos do seu plano doutoral.

Estágio(s)

Não

Programa

1. Cristalografia e teoria da difração.

2. Difração de raios-X.

3. Microscopia eletrónica.

4. Microscopia de força atómica.

5. Espectroscopias de raios-X.

6. Espectroscopias óticas.

7. Espectroscopias de superfície.

8. Ressonância Magnética Nuclear.

9. Caracterização térmica: análise térmica diferencial, calorimetria diferencial, dilatometria.

Métodos de Avaliação

Avaliação
Exame: 100.0%

Documentos

Ficha Unidade Curricular - 2013/2014 (Word)

Bibliografia

Title:The Basics of Crystallography and Diffraction

Author(s):C. Hammond

Year:2001

Reference:IUCr, Oxford Science Publications

Title:Electron Microscopy and Analysis

Author(s):P. J. Goodhew and F. J. Humphreys

Year:1988

Reference:Taylor & Francis, London

Title:Basic Principles of Spectroscopy

Author(s):Raymond Chang

Year:1971

Reference: International Student Edition, McGraw-Hill Kogakusha, Ltd.

Title:Practical Surface Analysis. Auger and X-Ray Photoelectron Spectroscopy

Author(s):M. Briggs and P.Seah

Year:1990

Reference:John Wiley & Sons, New York

Title:Ressonância Magnética Nuclear. Fundamentos, Métodos e Aplicações

Author(s):V.M.S. Gil e C.F.G.C. Geraldes

Year:1987

Reference:Fundação Calouste Gulbenkian, Lisbon